電磁兼容性測(cè)試電磁兼容標(biāo)準(zhǔn)，要求電子電機(jī)設(shè)備相關(guān)產(chǎn)品必須符合輻射干擾與傳導(dǎo)干擾發(fā)射規(guī)格，以及輻射耐受性與傳導(dǎo)耐受性規(guī)格。為了驗(yàn)證電子電機(jī)設(shè)備EMC設(shè)計(jì)是否良好，必須在研發(fā)之整個(gè)過(guò)程中，對(duì)各種電磁干擾源之發(fā)射干擾、傳輸特性及受干擾設(shè)備能否負(fù)荷耐受性測(cè)試，驗(yàn)證設(shè)備是否符合相關(guān)電磁兼容性標(biāo)準(zhǔn)和規(guī)范。
電磁兼容性測(cè)試包含電磁干擾測(cè)試(EMI)及電磁耐受性測(cè)試(EMS)
CE表示可以傳導(dǎo)發(fā)射(ConductedEmission)，CS表示傳導(dǎo)耐受性(Conductedusceptibility)，RE表示輻射發(fā)射(RadiatedEmission)，RS表示輻射耐受性(RadiatedSusceptibility)
一般電磁干擾(EMI，包括CE及RE)
電磁兼容測(cè)試主要內(nèi)容有：電子電機(jī)產(chǎn)品和設(shè)備在各種電磁雜訊環(huán)境中之傳導(dǎo)干擾和輻射干擾發(fā)射量之測(cè)試及各種訊號(hào)傳輸時(shí)，干擾傳遞特性之測(cè)試。
而電磁耐受性(EMS，包括CS及RS)測(cè)試主要內(nèi)容則有：
1.對(duì)電場(chǎng)、磁場(chǎng)之輻射耐受性測(cè)試；
2.對(duì)電源線(xiàn)、控制線(xiàn)、訊號(hào)線(xiàn)、地線(xiàn)等注入干擾之傳導(dǎo)耐受性測(cè)試；
3.對(duì)靜電放電和各種暫態(tài)電磁波(突波或電性快速暫態(tài))之耐受性測(cè)試